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问题：聚合物表面分析：X射线光电子谱（XPS）和静态次级离子质谱（SSIMS）
类型：推荐
提问：shunshun12
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版块：高分子资源(kevlar,bigfoot,)
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时间：2005-02-20 15:49:25 编辑加入/取消收藏订制/取消短消息举报该贴

聚合物表面分析：X射线光电子谱（XPS）和静态次级离子质谱（SSIMS）

论坛ftp里面

回复人：admin,★ (论坛管理员-欢迎大家访问化学化工论坛) 时间：2005-02-20 16:48:42 编辑	1楼
very good

回复人：newboy1,▲▲ () 时间：2005-02-21 10:48:50 编辑	2楼
好

回复人：hzb.hugh,▲ () 时间：2005-03-19 17:35:46 编辑	3楼
good

回复人：dalili,▲ () 时间：2005-11-24 23:17:15 编辑	4楼
资源不错，加0.1分

回复人：zhchh008,▲ (xiexie) 时间：2005-12-19 08:09:23 编辑	5楼
论坛FTP的速度好慢啊！！不过还是谢了

回复人：phoenix,▲ (高分子材料) 时间：2005-12-20 17:26:51 编辑	6楼
FTP连不上，能不能给我传一份，谢了。 phoenixly@163.com

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